- Методика выполнения измерений геометрических параметров массивов оксидных наноразмерных структур методом атомно-силовой микроскопии
- Сертификат о калибровке растрового электронного микроскопа Nova Nanolab 600
- Методика измерений удельного сопротивления гомогенных полупроводниковых материалов методом атомно-силовой микроскопии
- Методика измерений механических параметров вертикально ориентированных нанотрубок методом наноиндентирования
- Методика измерений высоты массива вертикально-ориентированнных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии
- Свидетельство об оценке состояния измерений в лаборатории зондовых нанотехнологий